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測(cè)溫儀檢測(cè)高低溫恒溫試驗(yàn)房

該設(shè)備適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備，特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗(yàn)。

測(cè)溫儀檢測(cè)高低溫恒溫試驗(yàn)房產(chǎn)品簡(jiǎn)介：高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱滿足GB/T 2423.1-2008試驗(yàn)A《低溫試驗(yàn)方法》；GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B《高溫試驗(yàn)方法》；GB/T 2423.3-2006試驗(yàn)C《恒定濕熱方法》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)制造，可進(jìn)行各種高低溫濕熱環(huán)境試驗(yàn)。